| 電源 | AC 220V ± 10% 50HZ 5A |
|---|---|
| 出力 | AC 38V 10A |
| 点検速度 | ≥6 m/min |
| 重量約 | 6.5Kg （主要な単位） |
| 製品名 | 携帯用磁気探傷テストの欠陥の探知器 |
| 電源 | AC 220V ± 10% 50HZ 5A |
|---|---|
| 出力 | AC 38V 10A |
| 点検速度 | ≥6 m/min |
| 重量約 | 6.5Kg （主要な単位） |
| 製品名 | 携帯用磁気探傷テストの欠陥の探知器 |
| 材料 | ABS |
|---|---|
| 試験範囲 | 1.5~240mm |
| 持ち上がる整理 | 0~3mm |
| 動作周波数 | 4MHz |
| 高温健全な速度の補償 | 自動補償 |
| 頻度 | 2-15Mhz |
|---|---|
| 調査のサイズ | 4mm-20mm |
| パッケージの詳細 | 標準的な輸出パッケージ |
| 受渡し時間 | 1-4days |
| 支払条件 | T/T、Paypal、ウェスタン・ユニオン |
| 周波数範囲 | 0.5MHzへの10MHz |
|---|---|
| 接触のトランスデューサー | さまざまな要素のサイズ |
| 保護された表面トランスデューサー | フィルムか靴を使って |
| 水晶要素のトランスデューサー | 二重要素か単一の要素 |
| 輪郭を描かれたくさび | 援助CID AODのタラ |
| 調査 | 電磁石の超音波厚さの調査 |
|---|---|
| 原則 | 電磁石の超音波EMAT |
| 厚さの測定の正確さ | 0.04mmの範囲2~120 mm （鋼鉄） |
| 仕事の整理は/離れる | ≤4mm |
| 知的財産保護 | IP65 |
| 周波数範囲 | 12.5KHzへの250KHz |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）; 外面:USBドライブ |
| 保証 | 12か月 |
| 適用 | 産業金属の欠陥テスト |
| 使用法 | 欠陥の検出 |
| 材料 | 亜鉛合金 |
|---|---|
| 角度 | 0-90degres |
| コネクター | Lemo 00 Lemo 01 BNCの極小マイクロ写真 |
| 頻度 | 0.5Mhz-10MHz |
| パッケージの詳細 | 標準的な輸出パッケージ |
| 周波数範囲 | 12.5KHzへの10MKHz |
|---|---|
| 接触のトランスデューサー | さまざまな要素のサイズ |
| 保護された表面トランスデューサー | フィルムか靴を使って |
| 二重要素のトランスデューサー | 二重要素 |
| 輪郭を描かれたくさび | 援助CID AODのタラ |
| 測定の技術 | 渦電流は |
|---|---|
| 動作周波数 | 60KHz、120KHz |
| 表示画面 | 240X320ピクセルTFT-LCD |
| 測定範囲 | 0.5%IACS-110%IACS （0.29MS/m-64MS/m） |
| 率の区別 | 伝導性:0.01% IACS （MS/m） |
