| 脈拍繰返し頻度 | 20 Hzから2000 Hz |
|---|---|
| 検知範囲 | 0~15000mm 鋼の速度で |
| 音速 | 1000から20000m/s |
| 作業方法 | パルス・エコー,ダブル・トランスミッション |
| ダイナミック レンジ | 40dB以上 |
| 電源 | AC 220V ± 10% 50HZ 5A |
|---|---|
| 出力 | AC 38V 10A |
| 点検速度 | ≥6 m/min |
| 重量約 | 6.5Kg （主要な単位） |
| 製品名 | 携帯用磁気探傷テストの欠陥の探知器 |
| 頻度 | 0.2 – 20のMHz |
|---|---|
| 検出の範囲 | 0 - 10000のmm |
| 健全な速度 | 100 – 20000 m/s |
| 作業方法 | 脈拍のエコー、二重、およびによ伝達 |
| 利益調整 | （0-110） dBのステップ:定義可能な0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0、ユーザー（0-24）、および締められる |
| 表示 | 11インチ800X600 TFTのカラー ディスプレイ |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）; 外面:USBドライブ |
| ファイル及び記入項目の管理システム | （焦点法律及びモデル）配置、口径測定および点検の間の適用範囲が広い連結 |
| モジュラー構成 | Lスキャン、Sスキャン、L Cスキャン、クランク軸Butt-Weld、S Cスキャン パイプライン、TOFD、UT （慣習的な）、 |
| DDF | 動的深さの集中（DDF） |
| 表示 | 11インチ800X600 TFTのカラー ディスプレイ |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）;外面:USBドライブ |
| ファイル及び記入項目の管理システム | 設定（焦点法律及びモデル）、口径測定および点検の間の適用範囲が広い連結 |
| モジュラー構成 | Lスキャン、Sスキャン、L Cスキャン、S Cスキャン、バット溶接、クランク軸、パイプライン、TOFD、UT （慣習的な）、 |
| DDF | (DDF)を集中する動的深さ |
| 電源 | AC 220V ± 10% 50HZ 5A |
|---|---|
| 出力 | AC 38V 10A |
| 点検速度 | ≥6 m/min |
| 重量約 | 6.5Kg （主要な単位） |
| 製品名 | Ndtの磁気探傷テスト |
| 表示 | 11インチ800X600 TFTのカラー ディスプレイ |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）; 外面:USBドライブ |
| ファイル及び記入項目の管理システム | （焦点法律及びモデル）配置、口径測定および点検の間の適用範囲が広い連結 |
| モジュラー構成 | Lスキャン、Sスキャン、L Cスキャン、クランク軸Butt-Weld、S Cスキャン パイプライン、TOFD、UT （慣習的な）、 |
| DDF | 動的深さの集中（DDF） |
| サイズ | 204 x 100 x 36 （mm） |
|---|---|
| データ保存 | それは100,000の厚さ（100グループ各グループの1000）、スキャン波形の500グループおよびBスキャン波形の500グループを同時に貯えることができる |
| バッテリー | 4pcs AA乾電池 |
| 測定モード | （1） MB-E:最初のエコーからの最初の底面エコーに移動時間に基づく測定モード;（2） E-E:浸透のコーティングの測定モードは、任意Em Enエコー任意である;（3） ME-E:多数のエコーの測定 |
| 正確さ | +/-0.001mm |
| パッケージの詳細 | 標準的な輸出パッケージ |
|---|---|
| 受渡し時間 | 1-4days |
| 支払条件 | トン/ Tは、ペイパル、ウェスタンユニオン |
| 供給の能力 | 毎月500枚 |
| 起源の場所 | 北京 |
| パッケージの詳細 | 標準的な輸出パッケージ |
|---|---|
| 受渡し時間 | 1-4days |
| 支払条件 | トン/ Tは、ペイパル、ウェスタンユニオン |
| 供給の能力 | 毎月500枚 |
| 起源の場所 | 北京 |
