| 表示 | 11インチ800X600 TFTのカラー ディスプレイ |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）;外面:USBドライブ |
| ファイル及び記入項目の管理システム | 設定（焦点法律及びモデル）、口径測定および点検の間の適用範囲が広い連結 |
| モジュラー構成 | Lスキャン、Sスキャン、L Cスキャン、S Cスキャン、バット溶接、クランク軸、パイプライン、TOFD、UT （慣習的な）、 |
| DDF | (DDF)を集中する動的深さ |
| 周波数範囲 | 12.5KHzへの10MKHz |
|---|---|
| 接触のトランスデューサー | さまざまな要素のサイズ |
| 保護された表面トランスデューサー | フィルムか靴を使って |
| 二重要素のトランスデューサー | 二重要素 |
| 輪郭を描かれたくさび | 援助CID AODのタラ |
| 材料 | アルミニウム7075の炭素鋼、ステンレス鋼 |
|---|---|
| 標準 | ISO2400-1972 ISO2400 2012年 |
| パッケージの詳細 | 標準的な輸出パッケージ |
| 受渡し時間 | 1-4days |
| 支払条件 | トン/ Tは、ペイパル、ウェスタンユニオン |
| 材料 | 亜鉛合金 |
|---|---|
| 角度 | 0-90degres |
| コネクター | Lemo 00 Lemo 01 BNCの極小マイクロ写真 |
| 頻度 | 0.5Mhz-10MHz |
| パッケージの詳細 | 標準的な輸出パッケージ |
| 脈拍繰返し頻度 | 30-3000Hz |
|---|---|
| 検出の範囲 | 鋼鉄速度の0-25000のmm、 |
| 健全な速度 | 100~20000m/s |
| 作業方法 | 脈拍のエコー、二重、およびによ伝達 |
| 感受性 | 選択可能な決断0.1、1.0、2.0、6.0 dBで最高120 dB |
| 周波数範囲 | 12.5KHzへの250KHz |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）; 外面:USBドライブ |
| 保証 | 12か月 |
| 適用 | 産業金属の欠陥テスト |
| 使用法 | 欠陥の検出 |
| 色 | 黒 |
|---|---|
| タイプ | LEMO BNCの極小マイクロ写真、SUBVIS |
| パッケージの詳細 | 標準的な輸出パッケージ |
| 受渡し時間 | 1-4days |
| 支払条件 | トン/ Tは、ペイパル、ウェスタンユニオン |
| 粗い分野および産業環境 | 60 ℃への-10℃ |
|---|---|
| 電池の作業時間 | 実質のテスト条件の下の12時間への延長電池の寿命 |
| スクリーン | 速く、明るい色スクリーン |
| Pulser方形波 | 選択 |
| 自動訂正 | 曲げられた表面の訂正 |
| 脈拍繰返し頻度 | 精密な10-2000Hzは、高速スキャン、失敗調節しない |
|---|---|
| 検出の範囲 | 鋼鉄速度の0-10000のmm、 |
| 健全な速度 | 100~20000m/s |
| 作業方法 | 脈拍のエコー、二重、およびによ伝達 |
| 感受性 | 選択可能な決断0.1、1.0、2.0、6.0 dBで最高120 dB |
| 垂直直線性誤差 | ≤3% |
|---|---|
| 減衰器エラー | 12毎±1dB |
| ダイナミックレンジ | ≧32デシベル |
| 電気ノイズレベル | ≤10（周波数帯域：1~5MHz）% |
| 探傷感度マージン | ≧65（2.5Z20Nプローブ）dB |
