A/Bスキャン | スキャンおよびBスキャン表示の一致 |
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ビデオ・カメラ | 含んでいた |
調査 | 電磁石の超音波厚さの調査 |
リモート・コントロール | 走査方向を制御するリモート・コントロール システムおよびそれは事前調整の走査方向である場合もある |
主義 | 電磁石の超音波EMAT |
材料 | ABS |
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測定の厚さの範囲 | 0.01 mm ~ 38 m,測定対象物質,探査機,表面条件,温度,選択された構成に応じて |
高解像度 | 通常のディスプレイ解像度は0.001mmで,オプションの超高解像度は0.0001mmに達することができます |
測定単位 | ミリメートル,インチ,ミクロン,ミル |
高温測定 | 500°Cまで |
正確さ | +/-0.001mm |
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表示 | 3.5" QVGA (320 × 240)色TFT-LCDスクリーン |
インターフェイス | USB |
働く温度 | -10°Cへの+50°C |
健全な速度の範囲 | 400-19999m/s |
運営原則 | Ultrosonic |
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測定範囲 | 1.0-200mm、0.05-8inch |
健全な速度 | 500-9000m/s |
表示 | ELのバックライトが付いている5ディジットLCD |
決断 | 0.1mmか0.01mm |