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75 マイクロン 無形シリコン A Si 様々な分野用 A Si DR 非破壊性試験

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MOQ
75 マイクロン 無形シリコン A Si 様々な分野用 A Si DR 非破壊性試験
特徴 ギャラリー 製品の説明 見積依頼
特徴
仕様
材料: アモルフシリコンセンサー
温度: 10~35°C (運用) 10~50°C (保管)
湿度: RH 30~70% (凝縮しない)
製品名: DR デジタルフラットパネル検出器
レセプタータイプ: Si
シンチレーター: CsI:TI
アクティブ エリア: 230.4 x 172mm
ピクセルピッチ: 75μm
決議: 3072×2304
ハイライト:

75 マイクロン A-Si DR

,

無形シリコン A-Si DR

,

様々な分野 A-Si DR

基本情報
起源の場所: 中国
ブランド名: HUATEC
証明: CE ISO GOST
モデル番号: H2317HSC-CG
お支払配送条件
パッケージの詳細: 標準カートンパッケージの輸出
製品の説明

75 マイクロン 無形シリコン A-Si 様々な分野用 A-Si DR そして非破壊試験

 

H2317HSC-CG 無形シリコンセンサーをベースにした軽量平面パネル検出器で,X線検出に適しています

 

センサー
レセプタータイプ a-Si

スキンチラター CsI:TI

アクティブエリア 230.4 x 172 mm

決議3072x2304

ピクセルピッチ 75 μm

 

電源とバッテリー

アダプター AC 100-240V,50-60Hz

アダプター 24V DC2.7A

電力消耗 < 20 W

 

画像品質
制限解像度 5.9 LP/mm

エネルギー範囲 40〜150KV

動的範囲 ≥76 dB

感度 ≥0.54 LSB/nGy

Ghos <1% 1番目のフレーム

 

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