| 表示 | 11インチ800X600 TFTのカラー ディスプレイ |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）;外面:USBドライブ |
| ファイル及び記入項目の管理システム | 設定（焦点法律及びモデル）、口径測定および点検の間の適用範囲が広い連結 |
| モジュラー構成 | Lスキャン、Sスキャン、L Cスキャン、S Cスキャン、バット溶接、クランク軸、パイプライン、TOFD、UT （慣習的な）、 |
| DDF | (DDF)を集中する動的深さ |
| 表示 | 11インチ800X600 TFTのカラー ディスプレイ |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）; 外面:USBドライブ |
| ファイル及び記入項目の管理システム | （焦点法律及びモデル）配置、口径測定および点検の間の適用範囲が広い連結 |
| モジュラー構成 | Lスキャン、Sスキャン、L Cスキャン、クランク軸Butt-Weld、S Cスキャン パイプライン、TOFD、UT （慣習的な）、 |
| DDF | 動的深さの集中（DDF） |
| 表示 | 11インチ800X600 TFTのカラー ディスプレイ |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）; 外面:USBドライブ |
| ファイル及び記入項目の管理システム | （焦点法律及びモデル）配置、口径測定および点検の間の適用範囲が広い連結 |
| モジュラー構成 | Lスキャン、Sスキャン、L Cスキャン、クランク軸Butt-Weld、S Cスキャン パイプライン、TOFD、UT （慣習的な）、 |
| DDF | 動的深さの集中（DDF） |
| 周波数範囲 | 12.5KHzへの250KHz |
|---|---|
| 記憶 | 作り付け:16G RAM+4GBのフラッシュ;SDカード（32Gに最高）; 外面:USBドライブ |
| 保証 | 12か月 |
| 適用 | 産業金属の欠陥テスト |
| 使用法 | 欠陥の検出 |
| 周波数範囲 | 12.5KHzへの10MKHz |
|---|---|
| 接触のトランスデューサー | さまざまな要素のサイズ |
| 保護された表面トランスデューサー | フィルムか靴を使って |
| 二重要素のトランスデューサー | 二重要素 |
| 輪郭を描かれたくさび | 援助CID AODのタラ |
