A/Bスキャン | スキャンおよびBスキャン表示の一致 |
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ビデオ・カメラ | 含んでいた |
調査 | 電磁石の超音波厚さの調査 |
リモート・コントロール | 走査方向を制御するリモート・コントロール システムおよびそれは事前調整の走査方向である場合もある |
主義 | 電磁石の超音波EMAT |
正確さ | +/-0.001mm |
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表示 | 3.5" QVGA (320 × 240)色TFT-LCDスクリーン |
インターフェイス | USB |
働く温度 | -10°Cへの+50°C |
健全な速度の範囲 | 400-19999m/s |
重量 | 0.5kg |
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データ記憶 | それは100,000の厚さ(100グループ各グループの1000)、スキャン波形の500グループおよびBスキャン波形の500グループを同時に貯えることができる |
正確さ | +/-0.001mm |
測定の範囲 | 0.15mm – 1800mm |
表示 | 3.5" QVGA (320 × 240)色TFT-LCDスクリーン |
独立した検出の頻度 | 合計の2 |
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周波数範囲 | 10 Hz~10 MHzのステップ1つのHz |
利益 | 0 dB~99 dB、ステップ0.1 dB |
段階 | 0~359°のステップ1つのDegの適用範囲が広い段階回転 |
理性的な混合単位 | 合計の1 |
サイズ | 204 x 100 x 36 (mm) |
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データ記憶 | それは100,000の厚さ(100グループ各グループの1000)、スキャン波形の500グループおよびBスキャン波形の500グループを同時に貯えることができる |
電池 | 再充電可能なリチウム電池 |
測定モード | (1) MB-E:最初のエコーからの最初の底面エコーに移動時間に基づく測定モード;(2) E-E:浸透のコーティングの測定モードは、任意Em Enエコー任意である;(3) ME-E:多数のエコーの測定 |
正確さ | +/-0.001mm |
色 | 灰色 |
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主義 | 超音波 |
標準 | JBT 9377-2010の、ASTM A1038-2005 |
口径測定 | Slefの口径測定 |
記憶 | 測定データの1000グループおよび口径測定データの20グループを救うため |
色 | 灰色 |
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主義 | 超音波 |
標準 | JBT 9377-2010の、ASTM A1038-2005 |
口径測定 | Slefの口径測定 |
記憶 | 測定データの1000グループおよび口径測定データの20グループを救うため |
製品名 | 硬さ試験機 |
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硬度のスケール | HL、HRC、HRB、HRA、HV の HB、HS |
標準的な影響装置 | タイプDの影響装置 |
データ記憶 | 最高 500 グループ。(影響の時間に関連して 32~1) |
大画面 | ドット マトリクス LCD の 128*64 点 |
測定範囲 | HRA 22-88; |
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重量 | 2KG |
次元 | 60X10 |
硬度のスケール | HRA、HBW、HV、HR、HLD、HLG |
保証 | 12か月 |
測定の技術 | 渦電流 |
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動作周波数 | 業界標準航空のための60KHz薄板金を検出するための500KHz |
表示画面 | 液晶の大きいスクリーン、設計されているバックライト |
L*B*H | 220*95*55 mm |
重量 | 500g |