| 材料 | ABS |
|---|---|
| 評価パラメータ | 粗度評価パラメータ:Ra,Rz,Rq,Rt,Rp,Rv,Rc,Rdc,Rsk,Rku,Rsm,Rmr,Rdq,Rmr ((c); リップル度評価パラメータ: Wa,Wz,Wq,Wt,Wp,Wv,Wc, |
| 測定範囲 | X軸:Ra:0.01 - 10μm,Z1軸:±500μm |
| サンプリング長-L | 0.08、0.25、0.8、2.5、8 (mm) |
| 徴候の間違い | ±5% |
| 硬度のスケール | HL、HB、HRB、HRC、HRA、HV、HS |
|---|---|
| データ記憶 | 48~600グループ（影響の時間:32~1） |
| 測定範囲 | HLD （170~960） |
| 標準的な影響装置 | 影響装置D |
| オプションのインパクトデバイス | DC / D + 15 / G / C / DL |
| 硬度のスケール | HL、HB、HRB、HRC、HRA、HV、HS |
|---|---|
| データ記憶 | 48~600グループ（影響の時間:32~1） |
| 測定範囲 | HLD （170~960） |
| 標準的な影響装置 | 影響装置D |
| オプションのインパクトデバイス | DC / D + 15 / G / C / DL |
| 合金の要素 | Al、Ba、Sb、Sn、CD、Pd、Ag、Mo、NbのZr、Bi、Pb、HgのBr、SeのAu、W、PtのZn、CU、Ta、Hf、NI、Co、Fe、MnのCr、Vのチタニウム |
|---|---|
| 探知器 | SI-PINのX線の探知器 |
| 表示 | 4.3"のスクリーン・サイズの産業抵抗タッチ画面 |
| データ処理 | 8 Gの以上40000テスト データまでの高容量のデータ記憶 カード、貯蔵およびスペクトル写真 |
| ファイル | データはEXCELかPDFによって輸出することができる |
| 硬度のスケール | HL、HB、HRB、HRC、HRA、HV、HS |
|---|---|
| 記憶 | 48~600グループ（影響の時間:32~1） |
| 測定範囲 | HLD （170~960） |
| 標準的な影響装置 | D |
| オプションのインパクトデバイス | DC / D + 15 / G / C / DL |
| 出力 | 80～200 kV ±1kV |
|---|---|
| 焦点点 | 2.5mm |
| 最高の浸透 | 40mm |
| 材質 | 鉄鋼 |
| 放射の角度 | 40° |
| 合金の要素 | ベリリウム・ベ,マグネシウム・MG,アルミニウム・アル,シリコン・シ,チタン・ティ,ヴァナジウム・V,クロム・Cr,マンガネス・MN,鉄・フェ,コバルト・コ,ニッケル・ニ,銅・キュー,亜鉛・ZN,ナイ |
|---|---|
| アルミ合金 | アルミ合金,銅合金,ニッケル合金,不oxidable steel,低合金,中合金鋼,その他の合金品種と主要要素含有量,計器にはUNS級図書館がプリインストールされている.ユーザーもグレードライブラリを |
| 原則 | 3B 低功率高性能安全パルスレーザー |
| 操作システム | リナックス |
| ディスプレイ | タッチスクリーン |
| 密度の範囲 | 0~4.5D |
|---|---|
| 反復性の間違い | ±0.03D |
| 測定不確実性 | （0.00D~3.00D） ±0.03D （3.00D~4.00D） ±0.04D （4.00D~4.50D） |
| 電力要求事項 | 50~60Hz、220V±10% |
| サイズ | 330×110×116mm |
| 管の範囲OD | 400-1100mm |
|---|---|
| 管の電圧 | 150-250のkv |
| コントローラー | PLC |
| クリーニングの管の最適上昇斜面 | 12° |
| コントローラーのタイプ | 磁気位置 |
